报告清单
我的报告
[8]Reliability of Carbon-Nanotube FET Circuits: Today’s Challenges and the Road Ahead
Chakrabarty Krishnendu Professor Duke University
PS /PS2 2021年08月20日 09:45~10:30
仅限参会人 主旨报告
[7]Ratio based Resistive RAM for Low Error Rate, High Energy Efficiency and In-Memory Computing
K-T. Tim Cheng Professor Hong Kong University of Science and Technology
PS /PS2 2021年08月20日 09:00~09:45
仅限参会人 主旨报告
[6]Towards Robust AI: A Test Perspective
Qiang Xu Associate Professor The Chinese University of Hong Kong
PS /PS1 2021年08月19日 11:15~12:00
仅限参会人 主旨报告
[5]Life-Time Reliability for Memory Devices in AI Chip
XinLi Gu Chief Architect Reli Huawei Technology Co., Ltd.
PS /PS1 2021年08月19日 10:30~11:15
仅限参会人 主旨报告
[4]How to make chip intelligent – from an architecture perspective
Shaojun Wei Professor Tsinghua University
PS /PS1 2021年08月19日 09:30~10:15
仅限参会人 主旨报告
[3]Silicon Lifecycle Management for Emerging Memories
Yervant Zorian Synopsys
TS /TS1 2021年08月18日 09:00~12:00
仅限参会人 课程
[1]Scan Test Escapes, New Fault Models, and the Effectiveness of Functional System Level Tests
Adit Singh Auburn University
TS /TS2 2021年08月18日 19:00~22:00
公开 课程
重要日期

  • 会议日期

    08月18日

    2021

    至

    08月20日

    2021

  • 05月10日 2021

    初稿截稿日期

  • 08月16日 2021

    提前注册日期

  • 08月19日 2021

    报告提交截止日期

  • 08月20日 2021

    注册截止日期

主办单位
IEEE
Tongji University
Chinese Computer Federation
承办单位
Tongji University
联系方式
登录查看完整联系方式
历届会议
移动端
在手机上打开
小程序
打开微信小程序
客服
扫码或点此咨询