活动日程

时区：Asia/Shanghai

日程概览

TS2021年08月18日 09:00~22:00

Tutorial
时刻表 V4 发布时间：2021-08-18 08:34:22

PS2021年08月19日 09:00~20日 22:45

Plenary Session(Openning, Keynotes 1-6)
时刻表 V10 发布时间：2021-08-25 11:47:24

CS2021年08月20日 22:30~22:45

Closing Remark and Best Paper Reward
时刻表 V3 发布时间：2021-08-20 20:22:58

RS 2021年08月19日 20:00~20日 12:30

Regular Paper Session
时刻表 V8 发布时间：2021-08-23 15:03:40

SS 2021年08月19日 20:00~20日 22:25

Special Session
时刻表 V15 发布时间：2021-08-23 15:03:36

IS 2021年08月19日 21:05~20日 21:00

Industrial Session
时刻表 V10 发布时间：2021-08-23 15:07:06
2021年08月18日 09:00~22:00

时刻表 V4 发布时间：2021-08-18 08:34:22
TS1
08月18日 09:00~12:00
Topic 1: Silicon Lifecycle Management for Emerging Memories

进入会议室
TS2
08月18日 19:00~22:00
Tutorial 2, Scan Test Escapes, New Fault Models, and the Effectiveness of Functional System Level Tests

进入会议室
2021年08月19日 09:00~20日 22:45

时刻表 V10 发布时间：2021-08-25 11:47:24
PS1
08月19日 09:00~12:00
Openning and Keynote 1/2/3

进入会议室
PS2
08月20日 09:00~18:00
Keynote 4/5/6

进入会议室
2021年08月19日 20:00~20日 12:30

时刻表 V8 发布时间：2021-08-23 15:03:40
RS1
08月19日 20:00~20日 21:00
A1. When Machine Learning Meets Testing and Security

进入会议室
RS2
08月19日 21:05~22:05
A2. Fault Monitoring, Detecting, and Modeling

进入会议室
RS3
08月20日 11:30~12:30
A4 Circuit Design and Evaluation with Emerging Technology

进入会议室
2021年08月19日 20:00~20日 22:25

时刻表 V15 发布时间：2021-08-23 15:03:36
SS1
08月19日 20:00~21:00
B1. Fault Tolerant TSV and Latch Designs

进入会议室
SS2
08月19日 22:10~23:10
A3. Learning based Discovery in ATPG, DfT, and Reverse Engineering

进入会议室
SS3
08月20日 20:00~21:00
A5. 3D test and 3D DFT

进入会议室
SS4
08月20日 21:05~22:25
A6. Test Methods Towards Zero Failure Rate for Safety-Critical ICs

进入会议室
SS5
08月20日 21:05~22:25
B6 Top Papers of ITC’2020

进入会议室
2021年08月19日 21:05~20日 21:00

时刻表 V10 发布时间：2021-08-23 15:07:06
IS1
08月19日 21:05~20日 22:05
B2. The Advancement of 1149.10

进入会议室
IS2
08月19日 22:10~20日 23:10
B3. Automotive Test and Reliability

进入会议室
IS3
08月20日 11:30~12:30
B4. Diagnosis and Yield Learning

进入会议室
IS4
08月20日 20:00~21:00
B5. Industry Practice in SoC and Memory Test

进入会议室
2021年08月20日 22:30~22:45

会议主席：Ying Zhang/Tongji University

时刻表 V3 发布时间：2021-08-20 20:22:58
CS
08月20日 22:30~22:45
Closing Remark and Best Paper Reward

进入会议室
重要日期

  • 会议日期

    08月18日

    2021

    至

    08月20日

    2021

  • 05月10日 2021

    初稿截稿日期

  • 08月16日 2021

    提前注册日期

  • 08月19日 2021

    报告提交截止日期

  • 08月20日 2021

    注册截止日期

主办单位
IEEE
Tongji University
Chinese Computer Federation
承办单位
Tongji University
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