时刻表

时区：Asia/Shanghai

第2天2021年08月19日星期四

IS1

B2. The Advancement of 1149.10@Industrial Session

2021年08月19日 21:05~20日 22:05

ZOOM会议 进入会议室

视频会议 口头报告

时刻表 V10 发布时间：2021-08-23 15:07:06

开始 结束 持续 编号 标题
Organizer: Yu Huang, Session Chair: Paul Reuter
21:05 21:25 20 71
Requirements of high-speed scan and DFT implementation
Fu Haitao DFT technical expert/HISILICON
口头报告
21:25 21:45 20 11
Solving test challenges in adopting serial scan for production
Ed Seng/Teradyne Inc；Marc Hutner/Teradyne Inc
口头报告
21:45 22:05 20 12
Bringing 1149.10 to life
J-F Cote/Siemens Digital Industries Software；Geir Eide/Siemens Digital Industries Software
口头报告
IS2

B3. Automotive Test and Reliability@Industrial Session

2021年08月19日 22:10~20日 23:10

ZOOM会议 进入会议室

视频会议 口头报告

时刻表 V10 发布时间：2021-08-23 15:07:06

开始 结束 持续 编号 标题
Session Chairs: Yu Huang, Ron Press
22:10 22:30 20 13
Challenges and case-studies in ensuring automotive quality on nanoscale SOCs
David Francis/Texas Instruments, USA
口头报告
22:30 22:50 20 14
Advanced solutions to address automotive test & reliability challenges
Yervant Zorian/Synopsys
口头报告
22:50 23:10 20 15
Combining structural and functional monitoring for improving overall safety and reliability of automotive ICs
Nilanjan Mukherjee/Siemens Digital Industries Software
口头报告

第3天2021年08月20日星期五

IS3

B4. Diagnosis and Yield Learning@Industrial Session

2021年08月20日 11:30~12:30

ZOOM会议 进入会议室

视频会议 口头报告

时刻表 V10 发布时间：2021-08-23 15:07:06

开始 结束 持续 编号 标题
Session Chairs: Yu Huang, Wu Yang
11:30 11:50 20 18
Diagnosis and Yield Learning
Ruifeng Guo /Synopsys, USA
口头报告
11:50 12:10 20 16
Advancements in Diagnosis and Yield
Sameer Chillarige/Cadence
口头报告
12:10 12:30 20 17
Accuracy and scalability of physically aware diagnosis for yield learning
Wu-Tung Cheng /Siemens Digital Industries Software, USA
口头报告
IS4

B5. Industry Practice in SoC and Memory Test@Industrial Session

2021年08月20日 20:00~21:00

ZOOM会议 进入会议室

视频会议 口头报告

时刻表 V10 发布时间：2021-08-23 15:07:06

开始 结束 持续 编号 标题
Session Chairs: Fan Zhang, Jian Wang
20:00 20:20 20 59
An SRAM Test Quality Improvement Method For Automotive chips
Tuanhui Xu/employees
口头报告
20:20 20:40 20 56
A Dynamic Memory Maintenance Model Based on Physical Architecture
Shixin Xu/Duke Kunshan Universit
口头报告
20:40 21:00 20 70
SoC Testability and Its Application in Life Cycle Management
Yang Liu FAE/HISILICON
口头报告
重要日期

  • 会议日期

    08月18日

    2021

    至

    08月20日

    2021

  • 05月10日 2021

    初稿截稿日期

  • 08月16日 2021

    提前注册日期

  • 08月19日 2021

    报告提交截止日期

  • 08月20日 2021

    注册截止日期

主办单位
IEEE
Tongji University
Chinese Computer Federation
承办单位
Tongji University
联系方式
登录查看完整联系方式
历届会议
移动端
在手机上打开
小程序
打开微信小程序
客服
扫码或点此咨询