报告开始:2021年08月19日 21:05(Asia/Shanghai)
报告时间:20min
所在会场:[IS] Industrial Session [IS1] B2. The Advancement of 1149.10
暂无文件
Fu haitao received the B.S and M.S degree in University of Electronic Science and Technology of China, Chengdu, China, in 2007 and 2010, respectively.
In 2010, he joined Hisilicon Corporation. Now he is currently a director managing DFT technology & Solution team. His current research interests include High-speed SCAN or JTAG architecture, mixed-signal structural testing.
08月18日
2021
08月20日
2021
初稿截稿日期
提前注册日期
报告提交截止日期
注册截止日期
2022年08月24日 台湾-中国 Taipei
2022 IEEE International Test Conference in Asia2019年09月03日 日本 Tokyo
2019 IEEE International Test Conference in Asia2018年08月15日 中国
2018 IEEE International Test Conference in Asia2017年09月13日 台湾-中国 Taipei
2017 IEEE International Test Conference in Asia2014年11月10日 中国 杭州市
IEEE International Test Conference in Asia
发表评论