报告详情
Challenges and case-studies in ensuring automotive quality on nanoscale SOCs
编号：13
访问权限：仅限参会人
更新：2021-08-14 15:27:25
浏览：277次
口头报告
报告开始：2021年08月19日 22:10（Asia/Shanghai）
报告时间：20min
所在会场：[IS] Industrial Session [IS2] B3. Automotive Test and Reliability
暂无文件
摘要
关键词
暂无
报告人
David Francis
Texas Instruments, USA全部评论
重要日期
-
会议日期
08月18日
2021
至08月20日
2021
-
05月10日 2021
初稿截稿日期
-
08月16日 2021
提前注册日期
-
08月19日 2021
报告提交截止日期
-
08月20日 2021
注册截止日期
主办单位
IEEE
Tongji University
Chinese Computer Federation
Tongji University
Chinese Computer Federation
承办单位
Tongji University
联系方式
- Prof. Zhang Ying
- yi******@tongji.edu.cn
历届会议
-
2022年08月24日 台湾-中国 Taipei
2022 IEEE International Test Conference in Asia -
2019年09月03日 日本 Tokyo
2019 IEEE International Test Conference in Asia -
2018年08月15日 中国
2018 IEEE International Test Conference in Asia -
2017年09月13日 台湾-中国 Taipei
2017 IEEE International Test Conference in Asia -
2014年11月10日 中国 杭州市
IEEE International Test Conference in Asia
发表评论