报告清单
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[65]Comparison of Two Types of Single Gate Drivers for SiC MOSFET Stacks in Flyback Converters
Rui Wang Doctor Aalborg University
Room2 /S7&S8 2021年08月27日 14:45~15:00
仅限参会人 口头报告
[64]Over-Voltage and Oscillation Suppression Circuit with Switching Losses Optimization and Clamping Energy Feedback for SiC MOSFET
Yang ChengZi Xi’an Jiaotong University
P /P5 2021年08月27日 12:15~12:20
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[63]Degradation behavior and mechanism of SiC power MOSFETs by total ionizing dose irradiation under different gate voltages
Kexin Gao Xiangtan University
P /P4 2021年08月27日 12:10~12:15
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[62]Investigation on Parameter Extraction for An Improved Fourier-Series-Based NPT IGBT Model
Yifei Ding Hunan University
P /P3 2021年08月27日 13:00~13:05
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[61]A Lossless and Passive Voltage Spikes Clamping Circuit for SiC HERIC Inverter
Yong Li Huazhong University of Science and Technology
P /P3 2021年08月27日 12:55~13:00
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[60]Design of Aging Test System for SiC MOSFET Modules
Chaoyue Shen Student Shanghai University;School of Mechatronic Engineering and Automation
P /P4 2021年08月27日 12:35~12:40
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[59]Fractional-Order Model Predictive Control of SiC PFC Converter
Qihui Fu Hunan University
P /P5 2021年08月27日 13:15~13:20
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[58]GaN HEMT with current-driven gate and its driving circuit design
Qingliang Song principal engineer Infineon Technologies
P /P2 2021年08月27日 12:35~12:40
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[57]Off-State Negative Differential Capacitance in Low-Temperature AlGaN/GaN Heterostructures
Siyu Liu Doctor Xidian University
P /P1 2021年08月27日 12:35~12:40
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[56]Deep energy levels investigation on high resistivity bulk monocrystalline diamond
Yutian Wang Xidian University
P /P1 2021年08月27日 12:15~12:20
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重要日期
  • 会议日期

    08月25日

    2021

    08月27日

    2021

  • 04月21日 2021

    摘要截稿日期

  • 05月15日 2021

    摘要录用通知日期

  • 06月25日 2021

    终稿截稿日期

  • 08月24日 2021

    报告提交截止日期

  • 08月27日 2021

    注册截止日期

主办单位
IEEE
IEEE ELECTRONIC DEVICE SOCIETY
承办单位
Huazhong University of Science and Technology
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