报告开始:2021年08月19日 20:00(Asia/Shanghai)
报告时间:20min
所在会场:[SS] Special Session [SS1] B1. Fault Tolerant TSV and Latch Designs
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My name is Yan wen, I am a student in the Department of Computer and Communication Engineering at Changsha University of Science and Technology. The reaearch interest includes radiation hardening by design for nano-scale CMOS ICs,such as SRAM cells. I will reported the article A Low-Cost Quadruple-Node-Upset Self-Recoverable Latch Design. The instructor for this paper is Shuo Cai, Weizheng Wang, and the second author is Caicai Xie
08月18日
2021
08月20日
2021
初稿截稿日期
提前注册日期
报告提交截止日期
注册截止日期
2022年08月24日 台湾-中国 Taipei
2022 IEEE International Test Conference in Asia2019年09月03日 日本 Tokyo
2019 IEEE International Test Conference in Asia2018年08月15日 中国
2018 IEEE International Test Conference in Asia2017年09月13日 台湾-中国 Taipei
2017 IEEE International Test Conference in Asia2014年11月10日 中国 杭州市
IEEE International Test Conference in Asia
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