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5
Testing Structure of Qualcomm 802.11ad Solution.全文待审

#全体主题

4
Test and Reliability Analysis of Approximate Reversible Circuits摘要待审

mehdi khajooeinia*, Majid Mohammadi

#全体主题

3
Pinhole Defect Characterization and Modeling for STT-MRAM Testing全文待审

Lizhou Wu*

#全体主题

    3 条记录 1/1页
重要日期

  • 会议日期

    05月27日

    2019

    至

    05月31日

    2019

  • 12月12日 2018

    摘要截稿日期

  • 12月17日 2018

    初稿截稿日期

  • 02月20日 2019

    初稿录用通知日期

  • 03月20日 2019

    终稿截稿日期

  • 05月31日 2019

    注册截止日期

承办单位
KIT - Karlsruhe Institute of Technology
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