活动简介

International Test Conference is the world s premier venue dedicated to the electronic test of devices, boards and systems. At ITC, design, test, and yield professionals can confront the challenges the industry faces, and learn how these challenges are being addressed.

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  • 会议日期

    09月06日

    2013

    09月13日

    2013

  • 09月13日 2013

    注册截止日期

主办单位
IEEE Computer Society
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