会议简介

International Test Conference, the cornerstone of TestWeek events, is the premier conference dedicated to the electronic test of devices, boards, and systems -- covering the complete cycle from design verification, test, diagnosis, failure analysis, and back to process improvement. At ITC, test and design professionals can confront the challenges the industry faces, and learn how these challenges are being addressed by the combined efforts of academia, design tool and equipment designers, and test engineers.

征稿信息

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初稿截稿日期:2020-03-27

初稿录用通知日期:2020-06-05

摘要截稿日期:2020-03-13

终稿截稿日期:2020-07-24

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    11月01日

    2020

    11月06日

    2020

  • 03月13日

    2020

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  • Li-C Wang
  • licwang@ece.usb.edu

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