活动简介

International Test Conference, the cornerstone of TestWeek events, is the premier conference dedicated to the electronic test of devices, boards, and systems -- covering the complete cycle from design verification, test, diagnosis, failure analysis, and back to process improvement. At ITC, test and design professionals can confront the challenges the industry faces, and learn how these challenges are being addressed by the combined efforts of academia, design tool and equipment designers, and test engineers.

征稿信息

重要日期

2020-03-13
摘要截稿日期
2020-03-27
初稿截稿日期
2020-06-05
初稿录用日期
2020-07-24
终稿截稿日期
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重要日期
  • 会议日期

    11月01日

    2020

    11月06日

    2020

  • 03月13日 2020

    摘要截稿日期

  • 03月27日 2020

    初稿截稿日期

  • 06月05日 2020

    初稿录用通知日期

  • 07月24日 2020

    终稿截稿日期

  • 11月06日 2020

    注册截止日期

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