Characterization, Modeling and Test of SyntheticAnti-FerromagnetFlip Defect in STT-MRAMs
2021 IEEE International Test Conference in Asia
Wu Lizhou  ,Delft University of Technology
SS /SS5 2021年08月20日 21:05~21:25
公开 特邀报告
Fault Modeling and Testing of Spiking Neural Network Chips
2021 IEEE International Test Conference in Asia
Chiu I-Wei  National Taiwan University;James Chien Mo Li  National Taiwan University
RS /RS1 2021年08月19日 20:40~21:00
公开 口头报告
A N:1 Single-Channel TDMA Fault-Tolerant Technique for TSVs in 3D-ICs
2021 IEEE International Test Conference in Asia
Li Danqing  HeFei University of Technology
SS /SS1 2021年08月19日 20:40~21:00
私有 口头报告
Scalable Parallel Static Learning
2021 IEEE International Test Conference in Asia
Lin Xiaoze  Shantou University
SS /SS2 2021年08月19日 22:10~22:30
仅限参会人 口头报告
Learning A Wafer Feature with One Training Sample
2021 IEEE International Test Conference in Asia
Zeng Yueling Jenny   University of California Santa Barbara
SS /SS5 2021年08月20日 22:05~22:25
仅限参会人 口头报告
Testing and Fault-Localization Solutions for Monolithic 3D ICs
2021 IEEE International Test Conference in Asia
Chaudhuri Arjun  Duke University
SS /SS3 2021年08月20日 20:20~20:40
仅限参会人 口头报告
3D Test Wrapper Design and Physical Optimization
2021 IEEE International Test Conference in Asia
Chickermane Vivek   Cadence Design Systems;Mukherjee Subhasish   Cadence
SS /SS3 2021年08月20日 20:00~20:20
仅限参会人 口头报告
An optimized DFT technology based on machine learning
2021 IEEE International Test Conference in Asia
Yang Han  Nanjing University of Posts and Telecommunications
SS /SS2 2021年08月19日 22:30~22:50
仅限参会人 口头报告
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