活动简介

International technical forum on EOS and ESD that features research, technology, and solutions to increase understanding, enhance quality and reliability, reduce and control costs, and improve yields and productivity. This is the one premier event of techical papers, tutorials, workshops full of the latest reserach, technology and methodologies to control and prevent static charge.

征稿信息

重要日期

2016-02-26
摘要截稿日期
2016-03-01
初稿录用日期
2016-05-27
终稿截稿日期
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重要日期
  • 会议日期

    09月11日

    2016

    09月16日

    2016

  • 02月26日 2016

    摘要截稿日期

  • 03月01日 2016

    初稿录用通知日期

  • 05月27日 2016

    终稿截稿日期

  • 09月16日 2016

    注册截止日期

主办单位
IEEE
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