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Parametric Reconstruction of Permittivity Graded Materials Based on Electrical Capacitance Tomography终稿

Chao WANG, Xiao-Ran LI, Wen-Dong LI, Li-Yuan ZHANG, Guan-Jun ZHANG*

#全体主题

重要日期

  • 会议日期

    04月07日

    2019

    至

    04月10日

    2019

  • 04月10日 2019

    注册截止日期

  • 05月12日 2019

    初稿截稿日期

主办单位
IEEE电介质和电气绝缘协会
中国电工学会工程电介质专业委员会
承办单位
华南理工大学
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