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活动简介
多谱图像处理与模式识别国际学术会议是国际光学工程学会(SPIE)与中国联合组织的国际学术会议,已成功召开了五届(1998.武汉;2001.武汉;2003.北京;2005.武汉;2007.武汉),在学术届有一定的影响。继第五届会议在武汉取得圆满成功之后,第六届SPIE多谱图像处理与模式识别国际学术会议计划于2009年10月30日在宜昌三峡大坝酒店举行。大会将为从事多谱图像处理与模式识别领域研究的专家、教授、工程技术人员和研究生提供一个相互学习和交流的国际性论坛。为了提高会议的学术水平,会议将特邀国内外知名专家就本领域前沿作专题报告。
征稿信息

重要日期

2009-04-01
摘要截稿日期
2009-08-10
初稿截稿日期

征稿范围

征文范围: 1.多谱图像获取 红外成像 微波成像 雷达和激光雷达成像 超声波成像 高光谱与超谱、医学成像 2.多谱图像处理 红外图像处理 微波图像处理 雷达和激光雷达图像处理 超声波图像处理 高光谱与超谱、医学图像处理 3.自动目标识别与图像分析技术 图像滤波 小波与分形分析 边缘检测 图像分割 图像特征提取 目标识别与跟踪 图像序列分析 图像检索 数据融合与知识发掘 4.模式识别与计算机视觉 分类技术 神经网络 定标 立体视觉 Shape from X 3D建模与重建 5.图像的并行处理 算法
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重要日期
  • 会议日期

    10月30日

    2009

    11月01日

    2009

  • 04月01日 2009

    摘要截稿日期

  • 08月10日 2009

    初稿截稿日期

  • 11月01日 2009

    注册截止日期

主办单位
武汉华中科技大学
历届会议
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