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活动简介
为促进我国微纳米成像分析仪器的发展,推进和加速现代科学仪器在科研、教学和生产中的应用和发展,决定于2009年2月28日、3月1日在北京召开首届《微纳米成像分析仪器(AFM和MS)及相关技术学术研讨会》。本次会议为促进我国微纳米成像分析仪器的发展,推进和加速现代科学仪器在科研、教学和生产中的应用和发展,决定于2009年2月28日、3月1日在北京召开首届《微纳米成像分析仪器(AFM和MS)及相关技术学术研讨会》。本次会议将邀请我国近年来在微纳米成像分析仪器研制及应用研究方面取得重大进展的科学家作大会报告,会议期间还拟举行微纳米成像分析仪器研制及应用领域的专题研讨会和部分公司相关业务推介活动。本届会议由中国仪器仪表学会分析仪器学会微纳米成像分析仪器专业委员会、现代科学仪器杂志出版社主办。
征稿信息

重要日期

2009-01-30
初稿截稿日期
2009-02-27
终稿截稿日期

征稿范围

征文要求 (1)符合征文范围、未公开发表的论文均可应征; (2)录用的论文将择优在《现代科学仪器》上发表; (3) 应征论文请用E-mail投至gj@instrumentation.com.cn或info@instrumentation.com.cn信箱,投稿时主题中必须写明“首届微纳米成像分析仪器(AFM和MS)及相关技术学术研讨会”字样,并注明主题编号。请用Word 排版(A4纸),版面24 cm×16cm,作图尺寸8cm×6 cm,论文标题用小二号黑体;人名用小四号
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重要日期
  • 会议日期

    02月28日

    2009

    03月01日

    2009

  • 01月30日 2009

    初稿截稿日期

  • 02月27日 2009

    终稿截稿日期

  • 03月01日 2009

    注册截止日期

主办单位
现代科学仪器杂志出版社
协办单位
现代科学仪器杂志出版社
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