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活动简介
中国电子学会第十四届青年学术年会(简称:CIE-YC’2008)将于2008年9月在广州召开。这是一次广泛团结广大青年科技工作者,促进电子信息及其相关学科青年学者学术交流的盛会,届时还将邀请国内外著名专家学者作综述或专题报告,大会将在参会宣读论文中评选优秀论文并推荐到核心科技期刊上发表。大会将利用“珠三角”电子信息产业优势与产业互动,会议期间将举办“失效分析在提升产品质量中的作用”和“电子产品生产质量与控制”技术培训,并组织在广东地区参观学习。 第十四届青年学术年会被录用的论文将统一编排为中国电子学会第十四届青年学术年会论文集,由国防工业出版社出版(2008年9月出版),为正式出版,有ISBN号。中国电子学会第十四届青年学术年会(简称:CIE-YC’2008)将于2008年9月21~27日在广州召开,其中22~23日是电子产品制造与质量可靠性论坛研讨会,24~26日为青年学术交流大会。 为保证论文集出版,并保证出版质量,根据相关规定,每篇论文需交纳相应的版面费550元/篇(按4页算,超过4页后每页加100元),为鼓励学生撰写论文和参会,学生论文450元/篇(按4页算,超过4页后每页加100元)。
征稿信息

重要日期

2008-06-30
初稿截稿日期

征稿范围

征文范围(但不限于这些领域) 1. 电子产品可靠性与环境适应性技术 2. 电子产品设计、生产与过程控制 3. 微电子与电子器件技术(微电子、元器件、光电子) 4. 电路与系统 5. 自动控制技术 6. 信息与通信技术 7. 计算机与软件工程 8. 多媒体技术
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重要日期
  • 会议日期

    09月21日

    2008

    09月27日

    2008

  • 06月30日 2008

    初稿截稿日期

  • 09月27日 2008

    注册截止日期

主办单位
IEEE电子器件协会广州分会
承办单位
中国电子学会青年工作委员会
协办单位
IEEE电子器件协会广州分会
联系方式
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