中国站
国际站
软件
办会软件
网络研讨会
视频会议
虚拟会议
机构版
下载与演示
会议
专业分类
国内活动
海外活动
报告频道
索引
服务
创建活动
讲座
研讨会/课程
会议
登录
注册
第二届国际自动化测试与仪器仪表学术会议
The 2nd International Symposium on Test Automation & Instrumentation
2008年11月17日~21日
中国 · 北京市
会议
线下活动
0
浏览
0
条评论
收藏
分享
征稿已开启
查看我的稿件
已截稿
注册已开启
查看我的门票
已截止
活动简介
国际地理信息系统学术讨论会(IWGIS)是中国科学院资源与环境信息系统国家重点实验室主办的一项重要的定期国际学术会议,是国际上最早的GIS专业性国际会议之一。会议每三年召开一次,目的是展示和讨论国内外GIS的前沿发展、技术开发与综合应用。
征稿信息
重要日期
2008-09-01
初稿截稿日期
征稿范围
▲ 征文主题 ☆ 基础理论与前沿技术 · 现代仪器科学的基础理论与方法学 · 自动化测试与仪器仪表的基础理论 · 自动化测试系统与总线技术 · 现代误差理论与数据处理方法 · 过程控制理论与产品质量测试 · 信息理论与仪器仪表系统设计 ☆ 信号与图像处理 · 数据采集与处理 · 微弱信号处理技术 · 时域、频域及调制域信号分析与处理 · 3D信息采集与重构 · 数字化图像处理的理论与方法 &
留言
验证码
看不清楚,更换一张
提交
全部留言
稿件模板
×
论文模板
论文模板
活动首页
活动日程
时刻表
摘要清单
活动相册
我的审稿
管理活动
重要日期
会议日期
11月17日
2008
至
11月21日
2008
09月01日
2008
初稿截稿日期
11月21日
2008
注册截止日期
主办单位
中国仪器仪表学会
承办单位
CIS电子测量与仪器分会
联系方式
鲍军名
IS******@emijournal.com
登录查看完整联系方式
联系方式
×
会议网址:
http://www.emijournal.com/magazine1/index.html
提示
×
即将访问第三方域名
您即将访问第三方域名,请注意您的账号和财产安全。
http://www.emijournal.com/magazine1/index.html
移动端
在手机上打开
小程序
打开微信小程序
客服
扫码或
点此
咨询
留言