当前,我国正全面开启“十五五”高质量发展新征程,加快实现高水平科技自立自强,推动新质生产力发展成为核心战略任务。测试技术作为支撑高端制造、人工智能、量子信息、空天科技等前沿领域发展的基础性、先导性技术,其创新突破对构建现代化产业体系、保障产业链供应链安全具有重大意义。为深入贯彻落实“十五五”科技创新部署,前瞻布局未来测试技术发展方向,凝练关键科学问题与核心技术路径,由中国电子学会电子测量与仪器分会主办,桂林电子科技大学、北京方略博华文化传媒有限公司、《电子测量与仪器学报》承办的“2026未来测试技术发展学术会议”将于2026年6月13-14日在广西桂林召开。会议以“人工智能时代背景下未来测试技术的前沿探索与实践”为主题,聚焦国家重大战略需求与“十五五”重点发展方向,汇聚全国高校、科研院所、行业领军企业的专家学者与科研骨干,围绕智能科学仪器、自主无人系统测试、高端医疗检测、宽带信号智能采样、先进电子测量、AI赋能计量、集成电路与先进封装测试、光纤智能感知等前沿领域展开深度研讨。本次会议旨搭建一个高水平的学术交流平台,推动测试技术的理论突破与实践创新,促进测试技术在多领域的融合与应用,助力我国测试技术迈向国际领先水平。
本次会议将同步开展专题论文征集工作,将择优在《电子测量与仪器学报》(第1、2期卓越期刊行动计划梯队、领军期刊,被EI、SCOPUS、北大核心、CSCD核心及中国科技核心数据库收录)和《电子测量技术》(北大核心、科技核心)以专题形式进行发表。两刊特邀桂林电子科技大学许川佩教授担任专题主编,桂林电子科技大学胡聪教授担任专题副主编,诚邀高校、科研院所、企业等专家学者分享前瞻性研究成果。两刊论文提交截止日期:2026年7月31日(之后投稿的高水平论文将根据情况安排其他排期);专题出版日期:2026年10月31日。报名硕博论坛作报告的同学享受优先审稿权益。
智能测试技术;大数据与测试分析;集成电路智能测试;量子测试技术;分布式测试;智能仪器设计;故障诊断与预测;智能制造与无人系统测试;智能传感与非电量测试;智能仪器与嵌入式AI测量;智能测试系统与故障诊断;智能信号处理与机器学习算法;智能制造与工业互联网测试;AI硬件测试与验证;未来通信测试;硬件安全与可信测试;量子精密测量技术;人工智能时代的计量与标准化
(一)《电子测量与仪器学报》以“未来测试技术”为专题,涵盖主题不限于:智能测试技术;大数据与测试分析;集成电路智能测试;量子测试技术;分布式测试;智能仪器设计;故障诊断与预测;智能制造与无人系统测试;智能传感与非电量测试。征稿方式:《电子测量与仪器学报》官网注册登录投稿,选择“未来测试技术”栏目,网址:http://jemi.etmchina.com,邮箱:dzclxb@163.com。(二)《电子测量技术》以“人工智能赋能未来电子测试技术”为专题,涵盖主题不限于:智能仪器与嵌入式AI测量;智能测试系统与故障诊断;智能信号处理与机器学习算法;智能制造与工业互联网测试;AI硬件测试与验证;未来通信测试;硬件安全与可信测试;量子精密测量技术;人工智能时代的计量与标准化。征稿方式:《电子测量技术》官网注册登录投稿,选择“人工智能赋能未来电子测试技术”栏目,网址:https://emt.etmchina.com,邮箱:dzcl@vip.163.com。
06月13日
2026
06月14日
2026
终稿截稿日期
报告提交截止日期
2026年06月12日 中国 桂林市
2026未来测试技术发展学术会议
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