1.本次会议征文范围: *测试理论及应用 *声与超声测量 *ADC、DAC 与数据采集 *人工智能与神经网络 *电磁测量 *环境测量 *流场测试与显示 *图像与信息处理 *激光与光纤 *机械测量 *微电子机械系统和纳机电系统（MEMS 和NEMS） *微波测量 *噪声与振动测量 *非破坏性测量 *在线检测 *遥感与遥测 *机器人技术 *传感器与阵列执行器 *工业自动化 *控制理论与技术 *自动校准与测试 *其它 　　2． 应征稿件要求: 1) 论文作者需先提供300～500 字左右的论文摘要（英文）, 于