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活动简介
本次学术会议将为国内外从事光电技术研究的专家学者提供一次研讨光电子成像,光电子探测,图像处理,光电系统设计、制造与检测,相关技术与应用等领域的研究进展的机会,促进学术技术交流和相互合作。
征稿信息

重要日期

2007-04-15
摘要截稿日期

征稿范围

征文时间 英文摘要的截稿日期:2007年4月15日。  征文内容 1. 光电子成像: 像管(像增强器与高速摄影变像管);光子计数器件与系统; 摄像器件与系统;电子光学,微通道板、光阴极、荧光屏;微光成像系统。 2. 光电子探测: 光电探测器材料; 光电探测器;非致冷探测器;探测器性能检测与评价;红外成像与探测系统。 3. 图像处理: 像质评价与改善;模式识别,图像融合与超分辨力;多维图像处理技术;三维图像获取与处理。 4. 光电系统设计、制造与检测:新型光学系
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重要日期
  • 会议日期

    09月09日

    2007

    09月12日

    2007

  • 04月15日 2007

    摘要截稿日期

  • 09月12日 2007

    注册截止日期

主办单位
中国宇航学会
日本滨松光子学株式会社
中国光学学会光电专业委员会
北京市光学学会
中国航天科工集团公司三院8358研究所
承办单位
中国兵工学会光学专业委员会
北京理工大学信息科学技术学院
协办单位
中国宇航学会/日本滨松光子学株式会社/中国光学学会光电专业委员会/北京市光学学会/中国航天科工集团公司三院8358研究所
联系方式
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