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236 / 2017-11-22 11:49:28
Study on interfacial properties of SiC MOS with Barium
SiC,MOS,SiC/SiO2 interface
全体主题 > Gate dielectrics and surface passivation
终稿
Jia-Min Jie / Xidian University
Xiao-Yan Tang / Xidian University
Yu-Ming Zhang / Xidian University
Yi-Fan Jia / Xidian University
重要日期

  • 会议日期

    05月17日

    2018

    至

    05月19日

    2018

  • 12月08日 2017

    摘要截稿日期

  • 01月30日 2018

    摘要录用通知日期

  • 02月10日 2018

    初稿截稿日期

  • 02月10日 2018

    终稿截稿日期

  • 05月19日 2018

    注册截止日期

主办单位
IEEE
IEEE ELECTRONIC DEVICE SOCIETY
IEEE POWER ELECTRONIC SOCIETY
中国电源学会
中国半导体产业创新联盟
承办单位
西安交通大学
西安电子科技大学
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