本次会议征文范围: *测试理论及应用 *传感器技术 *人工智能与神经网络 *动态建模与仿真 *激光与光纤 *ADC、DAC与数据采集 *自动校准与测试 *工业自动化 *计算机辅助测试 CAT *控制理论与技术 *电磁测量 *数字信号分析与处理 *噪声与振动测量 *机器人技术 *特殊环境下的测试 *图像与信息处理 *先进仪器