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Application of Active Disturbance Rejection Control Technique in Photoelectronic Tracking System and Simulation Experiment

11512,11513,11514

光电探测系统对于控制精度的要求越来越高，传统的PID控制方法虽然具有结构简单易于实现等诸多优点，但是其产生原始误差方式不合理、微分信号不易提取、控制量使用简单的线性组合方式、误差信号积分反馈的引入易产生震荡等缺点也影响了它的进一步使用。自抗扰控制技术是对PID的改良，继承了PID的优点的同时改进了PID的一系列缺点。在不需要知道系统干扰的精确数学描述的情况下能够对系统干扰进行实时估计和补偿，从而提高控制系统的响应速度，降低系统的控制超调量，提高控制精度，是一种新型的控制技术。将自抗扰控制技术应用于光电探测系统的控制环节是研究的热点。文章将自抗扰控制系统的参数整定与控制器带宽结合起来从而减少待定参数，并在此基础上使用实验转台模型进行MATLAB仿真，证明了自抗扰控制系统应用于光电探测系统上是切实可行的。