片上容错BIFT的若干探索第十九届全国容错计算学术会议 CFTC 2021

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片上容错BIFT的若干探索

编号：20 访问权限：仅限参会人更新：2021-12-06 12:07:14 浏览：382次主旨报告

报告开始：2021年12月11日 14:00（Asia/Shanghai）

报告时间：45min

所在会场：[P] 开幕式及主旨报告 [P2] 主旨报告

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摘要

最近特斯拉发布的Tesla D1 Dojo系统包含了约500亿晶体管，在这样大规模的芯片系统中，很难保证每一个晶体管完全无故障工作。在芯片的全生命周期中，工艺偏差、老化、工作环境等都可能会导致一些晶体管失效。为了保障整个芯片的持续可靠工作，需要芯片测试、诊断以及纠错等一系列技术的支撑。针对芯片全生命周期可靠设计这一基础问题，我们提出了基于芯片自测试、自诊断、自修复技术的Built-In Fault Tolerance（BIFT）设计“片上容错”。报告中也将介绍过去十几年我们在多核处理器、大规模片上互联以及深度学习处理器上进行的BIFT探索，为未来大规模芯片的可靠和安全设计提供参考。

关键词

暂无

报告人

李晓维

中国科学院计算技术研究所

中国科学院计算技术研究所研究员、计算所学位评定委员会副主席，计算机体系结构国家重点实验室常务副主任。主要研究集成电路测试方法学、容错计算、硬件安全；出版学术专著4部、曾获国家技术发明奖和国家科技进步奖。担任中国计量测试学会常务理事、集成电路测试专业委员会主任；中国计算机学会监事长、JCST副主编； IEEE TCAD、IEEE TCAS II, ACM TOEAES等国际期刊编委。　