报告开始:2021年12月12日 13:45(Asia/Shanghai)
报告时间:15min
所在会场:[S2] 论文报告会场2 [S2.7&8] Session 7&8 硬件安全
暂无文件
以探索电磁故障注入(EMFI)攻击对动态随机存取存储器(DRAM)的安全性影响为目标,该文使用电磁故障注入攻击平台对DRAM进行了扫描攻击,对出现的故障进行统计分类,随后基于DRAM的基本结构分析阐述了造成故障的机理, 最后展示了通过电磁脉冲攻击DRAM对计算机系统的安全威胁。实验表明电磁脉冲在DRAM中既可以引起瞬时故障也可以引起持续性故障,且以多故障为主。分析发现,电磁脉冲故障攻击技术可以以低的时间和空间分辨率向DRAM的指定地址注入持续性故障。另外,该文成功地将持续性故障注入到了存储在DRAM中的AES-128程序中并破解了其密钥,证明了使用电磁脉冲对DRAM进行攻击能对计算机系统造成安全威胁,展示了DRAM安全性的研究对硬件系统安全具有重要意义。
12月11日
2021
12月12日
2021
注册截止日期
2023年07月28日 中国 常州市
第二十届全国容错计算学术会议2019年08月14日 中国 昌平区
第十八届全国容错计算学术会议2017年07月18日 中国
第十七届全国容错计算学术会议2015年07月17日 中国 上海市
第十六届全国容错计算学术会议2013年07月27日 中国 上海市
第十五届全国容错计算学术会议2009年07月15日 中国 呼伦贝尔盟
第十三届全国容错计算学术会议
发表评论