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Measurement of True Secondary Electron Emission Yields of Kapton终稿
Shulin Liu, Qingyun Shi, Yu Chen*, Guorui Huang, Feng Liang, Shuang Wang, Yonghong Cheng
#Sensor Modelling
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重要日期
-
会议日期
10月21日
2021
至10月23日
2021
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10月26日 2021
注册截止日期
主办单位
Southeast University, China
联系方式
历届会议
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2026年11月21日 中国 Chengdu
2026 International Conference on Sensing, Measurement & Data Analytics in the era of Artificial Intelligence -
2025年11月21日 中国 Guangzhou
2025 International Conference on Sensing, Measurement & Data Analytics in the era of Artificial Intelligence -
2023年11月02日 中国 China
International Conference on Sensing, Measurement & Data Analytics in the era of Artificial Intelligence -
2023年11月02日 中国 Xi'an
2023 International Conference on Sensing, Measurement & Data Analytics in the era of Artificial Intelligence -
2022年11月30日 中国 Harbin
International Conference on Sensing, Measurement & Data Analytics in the era of Artificial Intelligence -
2020年10月15日 中国 Xi'an
International Conference on Sensing, Measurement and Data Analytics in the era of Artificial Intelligence
