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CFETR NBI材料活化二维模型的初步分析

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面向等离子体区域NBI窗口完全开放,中子将沿着NBI输送管道泄露出去，而这些高能量高通量的中子易造成NBI 内部组件和NBI真空壁的活化。本文采用二维RZ模型和MCNP 工具对NBI关键部件活化进行了评估。结果表明：CFETR聚变功率为1.5GW，连续运行半年后，NBI关键部件的比活度都较大，即使冷却10年后，比活度依然在1E+05~1E+06Bq/kg；中性化室及支撑冷却2年后，比活度接近7E+04Bq/kg（IAEA低水平放射性废物限值）。对于1MeV@40A的NBI，系统自身产生的中子对材料的活化影响较小。