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ID / 提交时间

1277 / 2019-10-30 22:59:15

标题

HL-2A装置上磁扰动对逃逸电流的耗散作用的研究

关键字

主题及专题

全体主题 > 磁约束核聚变实验

状态

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作者

董云波 / 核工业西南物理研究院

摘要

由于逃逸电子的速度接近光速，它的输运主要由磁涨落决定，小的磁涨落（b ~ 10−4）就会导致较大的逃逸损失。利用磁扰动对逃逸电流的耗散这一特性，在HL-2A上利用SMBI在逃逸平台期间注入小气量氩气，成功激发了低频磁扰动。此扰动的频率为2-4kHz，具有m=2的磁岛结构。该磁扰动出现后逃逸电流的衰减率dI/dt有所增加，回旋辐射随即减弱，而热辐射和软X射线辐射显著增强。实验中可以通过控制杂质气体注入量来控制低频磁扰动的强度，从而控制逃逸电流的耗散。