摘要详情

ID / 提交时间

1067 / 2019-10-28 17:19:30

标题

外加共振磁扰动对逃逸电子产生的抑制

关键字

主题及专题

全体主题 > 磁约束核聚变实验

状态

摘要录用

作者

林志芳 / 华中科技大学

摘要

基于外加共振磁扰动（RMP）方法，J-TEXT开展了m/n=2/1模式RMP穿透对逃逸电子产生影响的研究。研究发现只要RMP穿透的持续时间大于25ms时，逃逸电流就可以实现完全的抑制。强度为12.5 Gs的外加共振磁扰动在等离子中激发m/n=2/1磁岛，随着穿透时间的增加，磁岛增大，最终导致破裂期间大范围随机化区域的形成，促进破裂期间逃逸种子的损失，从而抑制了逃逸电流的形成。相关的实验和模拟分析都验证了大磁岛具有抑制逃逸电流产生的能力，其为未来逃逸电子的抑制提供了新的思路。