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ID / 提交时间

1024 / 2019-10-28 09:33:55

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J-TEXT上通过氩SPI对破裂后逃逸电流进行耗散

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作者

炜白 / 华中科技大学

摘要

在 J-TEXT 上我们先用大量杂质气体注入（ MGI）产生逃逸电流，再通过氩散弹丸（ SPI）对逃逸电流平台耗散的实验。与大量杂质气体注入（ MGI）耗散[1]相比两者的耗散过程并没有较大的差异。通过计算发现散弹丸的气化率达到 21.2%，且弹丸的同化率达到 30.3％。

核工业西南物理研究院
中国物理学会等离子体物理分会
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