活动简介

The International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA) is Asia’s premier conference dedicated to IC failure analysis and reliability. 2018 marks its 25th edition and every year professionals, academic, suppliers, decision-makers, aspiring authors and world-class speakers congregate to share technology updates and address industry challenges. IPFA 2018 will feature an extensive program which includes:

Keynotes and Invited Talks

  • Tutorials and Workshops
  • Exhibition
  • Exchange Paper in FA and Reliability
  • Art of Failure Analysis Photo Contest

We cordially invite you to join us from the 16th-19th July at Marina Bay Sands, Singapore.

征稿信息

重要日期

2018-02-05
摘要截稿日期
2018-03-11
初稿录用日期
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重要日期
  • 会议日期

    07月16日

    2018

    07月19日

    2018

  • 02月05日 2018

    摘要截稿日期

  • 03月11日 2018

    初稿录用通知日期

  • 07月19日 2018

    注册截止日期

主办单位
IEEE Electron Devices Society Singapore Section Singapore Section R/EP/ED Jt Chapter
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