The VTS Program Committee invites original, unpublished paper submissions for VTS 2018. Paper submissions should be complete manuscripts, up to six pages (inclusive of figures, tables, and bibliography) in a standard IEEE two-column format; papers exceeding the page limit will be returned without review. Authors should clearly explain the significance of the work, highlight novel features, and describe its current status. On the title page, please include: author name(s) and affiliation(s), and the mailing address, phone number, and e-mail address of the contact author. A 50-word abstract and five keywords identifying the topic area are also required.
04月22日
2018
04月25日
2018
初稿截稿日期
初稿录用通知日期
终稿截稿日期
注册截止日期
2024年04月22日 美国 Tempe
2024 IEEE 42nd VLSI Test Symposium2023年04月23日 美国 San Diego
2023 IEEE 41st VLSI Test Symposium2021年04月25日
2021 IEEE 39th VLSI Test Symposium2019年04月23日 美国
2019 IEEE 37th VLSI Test Symposium2017年04月09日 美国 Las Vegas, Nevada, USA
2017 35th IEEE VLSI Test Symposium2016年04月25日 美国 Las Vegas, NV, USA
2016年第34届IEEE VLSI测试研讨会2014年04月13日 美国
2014第32届IEEE VLSI测试研讨会2013年04月29日 美国
2013 IEEE 31st VLSI Test Symposium
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